矢量网络分析是实验室常见的一种测量仪器，它既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值，又能测相位，矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。
文章使用锁相放大器OE1022对材料的传输特性进行测量，研究中使用了带有双栅结构(TG,BG)的BP器件，如图1(a)所示，约10纳米厚的BP薄膜被封装在两片六角形硼氮化物（hBN）薄片之间，为了保持整个结构的平整度，使用了少层石墨烯薄片来形成源极、漏极和顶栅接触，以便在传输特性测量中施加恒定的电位移场。
霍尔效应是电磁效应的一种，当电流垂直于外磁场通过半导体时，载流子发生偏转，垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场，从而在半导体的两端产生电势差，这一现象就是霍尔效应。霍尔效应广泛应用于材料表征和磁场感应。
材料电阻率是表征物质导电性能的重要物理参数，在半导体、超导体及新型功能材料研究中具有关键意义。为实现高精度、低噪声的电阻率测量，常采用锁相放大技术提取微弱信号。斯坦福研究所（Stanford Research Systems）生产的SR860锁相放大器以其高灵敏度、宽动态范围和优异的噪声抑制能力，成为科研领域广泛使用的...
锁相放大器是一种高精度信号检测设备，广泛应用于微弱信号提取与噪声抑制领域。根据其解调方式的不同，锁相放大器可分为单相和双相两种类型，二者在信号处理能力、相位检测范围及应用场景上存在显著差异。
使用同惠阻抗分析仪TH2851测试压电陶瓷的谐振频率，是评估其电声性能的关键环节。通过精确测量谐振频率、反谐振频率及阻抗特性，可判断压电陶瓷片的工作状态与品质因素，为换能器设计提供依据。
R&S®ZNL矢量网络分析仪是一款集网络分析、频谱分析与功率测量于一体的多功能、便携式高性能仪器，广泛应用于射频与微波器件的测试与研发。其操作简便、功能丰富，支持从5 kHz至6 GHz的宽频测量，适用于滤波器、天线、放大器等多种器件的性能评估。为确保测量结果的准确性与可靠性，掌握其基本操作步骤至关重要。
在射频与微波测量领域，矢量网络分析仪（VNA）与频谱分析仪（SA）是两种核心测试设备，尽管二者均涉及频率与幅度的分析，但在测量S参数这一关键任务上，其工作原理、测量方式与能力存在根本性差异。理解这些区别，对于准确选择测试仪器、获取可靠数据至关重要。
[本期看点]l 专业交付・精准护航l 现场演示·设备赋能l 赋能成长・蓄势前行l 精耕市场·客企共赢l 党建引领・凝心聚力l 温情暖冬・聚力同心安泰科技十二月动
阻抗分析仪是一种精密电子测试仪器，用于测量元件、电路或材料在交流（AC）信号下的复阻抗特性。阻抗（Z）不仅包含与频率无关的电阻（R），更包含由电感和电容引起的、随频率动态变化的电抗（X）。它以欧姆为单位，是一个复数，既有大小，也有相位，反映了电压与电流之间的幅度比和相位差。
在电子元器件、半导体器件及材料的研发、生产和质检过程中，精确的阻抗测量至关重要。Keysight（是德科技）作为电子测量领域的领导者，其 E4991B 和 E4990A 阻抗分析仪是两款备受推崇的高性能仪器。尽管它们都提供了卓越的测量能力，但各自的设计理念和性能侧重点却大不相同。
利用声表面波（SAW）技术探测扭曲双层石墨烯（TBG）的量子相变，需高精度测量微弱的SAW电压信号（频率259.75 MHz）。传统电输运测量无法检测低电导态（
OE1022之所以能胜任这一高难度任务，得益于其出色的硬件参数与功能设计。首先，其超低输入噪声（< 5 nV/√Hz）和高动态储备（> 120 dB），使其能够从复杂的背景噪声中精准提取出由自旋涨落引发的纳伏级（nV）微弱响应信号。其次，该仪器具备双通道独立输入，能够同步采集磁电信号的同相分量（V′）和反相...
测试原理： 通过测量样品的电容（C）和损耗角正切（D），结合样品几何参数（厚度 d、电极面积 A），计算得出介电常数（ε'）和介电损耗（ε''）。 仪器与样品要求： 测试主机：E4991B射频阻抗分析仪（需安装002选件）。 测试夹具：平行板电极夹具（如16453A，适用于固体薄片样品）。 被测样品： 形状与...
随着全球能源转型的加速推进，锂电池凭借其高能量密度、长循环寿命、无记忆效应等优势，在电动汽车、储能系统、消费电子等众多领域得到了广泛应用。 然而，锂电池的性能和安全性直接关系到终端产品的质量和用户体验，甚至可能引发严重的安全事故。因此，对锂电池进行全面、精准的测试，确保其性能达标、安全可靠，已成为锂电池行业发展的关键...
在现代电子系统中，电缆作为信号传输的物理媒介，其性能直接影响系统表现。除了标准的50Ω同轴电缆，工程师们经常需要测试非标称阻抗的线缆，如75Ω同轴线、双绞线以及高速差分数据线等。这些线缆的阻抗参数、S参数（如插入损耗、回波损耗/驻波比、Smith圆图）以及眼图特性，是评估其信号完整性的重要依据。
安捷伦E5071C矢量网络分析仪具备时域反射（Time Domain Reflectometry, TDR）功能，可用于电缆、连接器、PCB走线等射频链路中的故障定位与阻抗异常检测。该技术通过将频域S参数转换为时域响应，精确定位断路、短路、阻抗不匹配等故障点。以下是使用E5071C进行TDR故障定位测试的标准操作步骤。
在精密测量领域，锁相放大器是 “捕捉” 微弱信号的核心工具。斯坦福 Research Systems 的 SR860、SR865，与国产赛恩科仪 OЕ2011 作为单通道机型的代表，在参数、场景适配性上的差异，恰好勾勒出不同应用场景的需求边界。 从频率覆盖维度看，三者的定位截然不同。斯坦福的两款机型明显偏向高频场景：...
在高速数字系统与射频电路设计中，信号完整性（Signal Integrity, SI）直接影响系统性能与稳定性。使用罗德与施瓦茨R&S®ZNL4矢量网络分析仪进行信号完整性预测试，可有效评估传输路径中的反射、串扰、阻抗匹配等问题，为后续优化提供数据支持。以下是标准预测试操作步骤。
矢量网络分析仪（VNA）是微波器件研发与生产中的核心测量工具，用于表征器件的S参数。虽然研发通常追求高性能的高端VNA，但在产线环境中，测试成本、效率和耐用性往往与性能指标同等重要。因此，为产线选择VNA需要一套独特的考量标准。
