DS340是一款基于直接数字频率合成(DDS)的15 MHz功能和任意波形发生器。DS340集特性、性能和低成本于一身,是各种测试和测量应用的理想选择。
DS340是一款基于直接数字频率合成(DDS)的15 MHz功能和任意波形发生器。DS340集特性、性能和低成本于一身,是各种测试和测量应用的理想选择。
DS340 函数/套利发生器
DS340是一款基于直接数字频率合成(DDS)的15 MHz功能和任意波形发生器。DS340集特性、性能和低成本于一身,是各种测试和测量应用的理想选择。
可以在高达 15.1 MHz 的频率下生成正弦波和方波,在高达 100 kHz 的频率下生成斜坡和三角波。所有功能的频率分辨率均为1 μHz。DS340还包括一个10 MHz高斯白噪声发生器。
所有功能都可以在仪器的整个频率范围内以相位连续的方式对数或线性扫描。后面板SWEEP 输出在扫描开始时提供触发信号,以允许外部设备同步。可以选择单向和双向扫描。
通过可选的GPIB或RS-16接口,可将多达300,340个任意波形点下载到DS232的波形存储器中。提供PC软件,用于编写,编辑和下载任意波形。波形存储器可以以高达 40 M 采样/秒的速率回放。
内部和外部FSK模式都允许输出频率在两个预设值之间快速切换。FSK 切换可以在内部完成(速率高达 50 kHz),也可以通过后面板输入在外部完成。
DS340规格参数 | ||
| 频率范围 | 最大频率 | 分辨率 |
| 正弦 | 15.1兆赫 | 1 微赫兹 |
| 广场 | 15.1兆赫 | 1 微赫兹 |
| 坡道 | 100千赫 | 1 微赫兹 |
| 三角形 | 100千赫 | 1 微赫兹 |
| 噪声 | 10兆赫 | (高斯加权) |
| 任意 | 10兆赫 | 40 兆赫/氮(采样率) |
输出 | ||
| 源阻抗 | 50 Ω | |
| 接地 | 输出可浮动至 ±40 V (AC + DC) | |
波幅 | ||
| 范围 | 50 mVpp 至 10 Vpp 至 50 Ω,100 mVpp 至 20 Vpp 进入高阻态 | |
| 分辨率 | 3 位(直流偏移 = 0 V) | |
| 抵消 | ±5 伏直流(50 Ω),±10 伏直流高阻) | |
| 偏移分辨率 | 3 位数字 | |
| 准确性 | 0.1 dB(正弦输出) | |
正弦波 | ||
| 杂散响应 | <-65 dBc 至 1 MHz,超过 6 MHz 时增加 1 dB/倍频程 | |
| 谐波失真 | ||
| 直流至 20 kHz | <-70分贝 | |
| 20 kHz 至 100 kHz | <-60分贝 | |
| 100 kHz 至 1 MHz | <-50分贝 | |
| 1兆赫至 15兆赫 | <-40分贝 | |
| 相位噪声 | <-55 dBc(以载波为中心的 30 kHz 频段) | |
方波 | ||
| 上升/下降时间 | <15 ns ± 5 ns(10 % 至 90 %) | |
| 不对称 | <3 ns + 1 % 周期 | |
| 过头 | 振幅的 <2 %(全输出) | |
坡道和三角形 | ||
| 上升/下降时间 | 45 ns(10 MHz 贝塞尔滤波器) | |
| 线性 | 满量程的±0.1% | |
| 稳定时间 | 200 ns(最终值的0.5%) | |
任意波形 | ||
| 采样率 | 40 MHz 或整数子倍数 | |
| 波形长度 | 8 至 16,300 点 | |
| 垂直分辨率 | 12 位 | |
| 上升/下降时间 | 45 ns(10 MHz 贝塞尔滤波器) | |
FSK 调制 | ||
| 模式 | 内部、外部 | |
| 最大速率 | 50 kHz,内部 | |
| 外部 FSK | TTL 输入,1 MHz(最大值) | |
席卷 | ||
| 类型 | 线性和对数 (相位连续) | |
| 跨度 | 线性(全频率范围), 对数(6个十倍频程) | |
| 扫描率 | 0.01 赫兹至 1 千赫 | |
时基精度 | ||
| 标准 | ±5 ppm(20 °C 至 30 °C) | |
| 自选 | TCXO,2 ppm 稳定性,2 ppm 老化(20 °C 至 50 °C) | |
常规 | ||
| 接口 | 可选 RS-232 和 GPIB,带基于 DOS 的任意波形软件 (AWC)。所有仪器功能均可通过接口进行控制。 | |
| 非易失性存储器 | 最多可存储和调用 9 套仪器设置 | |
| 尺寸 | 8.5“ × 3.5” × 13“ (WHL) | |
| 重量 | 8磅 | |
| 权力 | 35 瓦,100/120/220/240 伏交流电,50/60 赫兹 | |
| 保证 | 一年的零件和人工材料和工艺缺陷 | |
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