越来越多的手机、电视厂商将目光投向MicroLED技术。MicroLED即LED微缩技术，是指将传统LED数组化、微缩化后寻址巨量转移到电路基板上，形成超小间距LED，将毫米级别的LED长度进一步微缩到微米级，以达到超高像素、超高解析率，理论上能够适应各种尺寸屏幕的技术。

MicroLED具备无需背光源、能够自发光的特性，与OLED相似，但相比OLED，MicroLED色彩更容易准确的调试，有更长的发光寿命和更高的亮度，但功耗比LCD低90%，是OLED的一半。或许能成为OLED之后下一代显示技术。

显示器的缺陷检测是非常重要的一项测试，但目前的检测测量仍保持在宏观水平，不能用于精确测量MicroLED数组，而且用于评估MicroLED数组亮度的方法集中在总亮度的测量上，未能快速检测MicroLED数组中的坏像素。因此寻找一种快速、精确的方法来检查MicroLED的表面亮度是非常有必要的。

MicroLED数组的亮度测量

ITECH某系统集成商用户为MicroLED提供缺陷检测测试系统，工作原理为：

1使用图像传感器将包含着目标物亮度信息的电信号转换成图像。利用标准亮度计检测待测物的亮度，获得灰度与亮度的关系，便可以通过曝光时间和拍摄到的图片快速得到待测物的亮度。

2. 通过装置拍摄工作状态下MicroLED数组的图片，经过编写的软件便可得到不同芯片的平均亮度。例如8号芯片的亮度仅为相同电压下其余芯片的三分之一，可确定8号芯片异常。因此，该系统既可以定量检MicroLED数组的工作状态，也可以用于快速检测MicroLED数组的坏点。

3. 形成不同电流下单颗MicroLED芯片的亮度伪彩图和亮度3D分布图。通过调节供电电流，如10uA、100uA、1000uA等参数，可以改变Micro-LED芯片表面亮度的均匀性，形成不同的亮度效果，对产品性能进行研究。可以看到在1000uA驱动电流的情况下，更多的点位于平均亮度附近。

ITECH可为MicroLED测试提供高分辨率高精度的供电电源。IT6400系列快动态响应时间小于20us，电流显示解析度可达1nA，电流纹波小于2uArms，LED测试无过流，标配有LAN/USB/GPIB通信接口，适用于LED行业测试。

IT-M3200高精度可编程直流电源，60V-600V电压范围，100W、200W、360W功率，适用于系统集成批量测试。在½U的Mini体积里兼顾了大功率和低纹波输出，同时具备动态负载响应能力，提供多档位电流量程切换，满足用户从安培级别到微安级别电流的多种量测需求，使用起来更加简易有效。