2025年9月，一场聚焦前沿技术的“碳化硅功率器件测试和应用高级研修班”在苏州圆满落幕。本次盛会汇聚了全国各地的企业研发精英与测试工程师，共同探索第三代半导体的测试挑战与行业未来。普源精电（RIGOL）受邀出席，携核心解决方案与现场工程师展开深度交流，以硬核技术实力点燃全场热情。

一、 核心方案解读：破解双脉冲测试难题

面对碳化硅（SiC）功率器件高速、高压的测试难点，RIGOL在研修班现场带来了专为之打造的DPT双脉冲测试系统。RIGOL的技术专家从工程师的实际痛点出发，系统性地剖析了：

设备选型策略： 如何根据具体测试需求，精准匹配示波器、信号源和探头，避免资源浪费或性能瓶颈。

测试环境搭建： 演示如何构建低干扰、高安全的测试回路，确保动态参数的测量准确性。

实战案例分享： 结合真实测试案例，讲解从信号触发到数据分析的全流程操作，帮助工程师全面掌握功率半导体动态参数测试的精髓。

现场环境搭建

二、 沉浸式互动体验：从理论到实践的零距离

我们深知，对于工程师而言，亲手操作的体验远胜于千言万语。本次活动，RIGOL将展台打造成了一个开放的“临时实验室”：

“眼见为实”的实操环节： 学员们可以直接上手操作RIGOL设备，在模拟真实应用的环境下，直观感受其对复杂信号的实时捕捉能力与多任务协同测试的流畅响应。RIGOL设备在高效性与易用性上的技术积淀，赢得了现场学员的高度评价。

“思想碰撞”的技术交流： 在互动问答环节，思想的火花不断碰撞。针对学员提出的各类实际测试难题，RIGOL专家一一给予详尽解答。

现场技术交流

三、 系统核心组件揭秘：硬核实力背后的“利器”

一套卓越的测试系统，离不开各个核心组件的强大支撑。现场展示的双脉冲测试系统正是由以下“精兵强将”组成：

系统的“慧眼”—— MHO/DHO5000系列高分辨率数字示波器

在双脉冲测试中，它能同步捕获并精准测量开关管Vgs、Vds、Id以及陪测管栅极串扰等多路关键信号。其12bit高垂直分辨率和出色的本底噪声，确保了对微小信号细节的洞察力，是高精度测试的基础。

该产品拥有高达8个模拟通道、1GHz模拟带宽、4GSa/s采样率，从容应对多点、高速的测试挑战。

系统的“脉搏”—— DG5000 Pro系列函数/任意波形发生器

该产品为功率器件提供精准、灵活的驱动信号。其独特的UI设计，能方便快捷地生成任意脉宽的多脉冲信号，并支持带有死区时间控制的双通道输出，完美复现实测场景。

DG5000 Pro系列基于Si-Fi II技术平台，拥有最高2.5GSa/s采样率、500MHz输出频率、16bit垂直分辨率，保证了信号的纯净度与高精度。 

系统的“触手”—— PIA1000系列光隔离探头

精准测量浮地小信号（如上管Vgs）是SiC测试中的核心难点。该探头能彻底消除地环路干扰，确保信号不失真，是精准测量的关键一环。

PIA1000系列光隔离探头具有最高1GHz带宽，180dB的超高共模抑制比，以及优于1%的直流增益精度，响应快速，上电即测。

此次研修班不仅是RIGOL展示前沿技术与产品的窗口，更是一次与行业用户深度对话、倾听市场声音的宝贵契机。通过与一线工程师的面对面交流，我们深刻感受到了国产测试测量仪器在多元化应用中的广阔潜力与日益增长的市场认可度。未来，RIGOL将继续深耕行业，以更卓越的解决方案，助力中国工程师在全球科技浪潮中勇立潮头。