9月24日，PCIM Asia 2025在上海新国际博览中心盛大开幕，重磅亮相N5馆F08展位，聚焦模拟半导体与宽禁带半导体应用场景，全面展示泰克全栈式半导体测试解决方案，并带来两款刚刚发布的新品：7系列DPO示波器与MP5000模块化精密测试系统。展位氛围热烈，客户交流络绎不绝，今天更是延续了这一热度。

新品首次亮相

此次展会，泰克两款全球同步发布的明星产品迎来中国首秀，成为展位一大亮点。

■   7系列DPO示波器

凭借超低噪声与行业领先的ENOB性能，帮助客户在高速通信、AI加速、量子计算等前沿应用中实现更高精度的信号捕获与分析。7系列DPO示波器：12-bit ADC搭配业内更低底噪前端，ENOB@10 GHz突破8.2，可直接捕获SiC/GaN 1.2 kV/50 A双脉冲瞬态，将开关损耗不确定度降至<1%。

■   MP5000模块化精密测试系统

以灵活的模块化设计，支持在1U机箱内自由组合SMU与PSU模块，满足验证与生产并行的高通道密度与高效率需求，成为未来十年自动化测试的蓝图。MP5000模块化精密测试系统：1U机箱内集成8×SMU+4×PSU，最高1 MHz采样率与nA级漏电流精度并行，为晶圆级WLR、HTGB、H3TRB及量产SLT提供单台“all-in-one”方案，已获国内头部IDM小批量订单。

展位现场，许多客户在新品展示前驻足交流，纷纷表示对其性能表现和未来应用场景充满期待。

双脉冲测试，成为功率器件验证“必修课”

随着SiC和GaN等宽禁带半导体器件在新能源汽车、数据中心、可再生能源领域的加速应用，如何准确评估其动态特性与开关损耗成为工程师普遍的痛点。

在展会现场，泰克展示的双脉冲测试方案吸引了大量客户驻足。通过高带宽示波器、精准源表以及配套分析软件，工程师能够完整捕捉器件在导通、关断与反向恢复三个阶段的关键参数。

●   开关损耗与寄生效应：帮助客户直观理解器件在实际应用中的能效表现；

●   可追溯验证：保证数据在研发与量产环节均具备一致性。

IMDA系统级验证，直击逆变器与电机驱动

如果说双脉冲解决了器件级的验证难题，那么IMDA（逆变器与电机驱动分析）则将测试范围扩展到系统级。展位现场的IMDA解决方案演示，完整覆盖了：

●   PWM波形与谐波分析：帮助客户快速定位逆变器效率瓶颈；

●   FOC与矢量控制：支持更深入的电机控制优化；

●   系统级能效评估：为新能源汽车与高效驱动应用提供直观数据支撑。

全栈方案全面覆盖

无论是研发验证还是系统级优化，工程师都能在展位上找到直观、可落地的答案。现场，泰克与东方中科还携手展示了覆盖器件—模块—系统的完整测试链路：

●   模拟半导体测试：隔离芯片CMTI测试、电源抑制比（PSRR）、智能失效分析；

●   宽禁带半导体测试：双脉冲测试、电源环路响应分析、IMDA逆变器与电机驱动分析。

结语

在PCIM Asia 2025，泰克以“在中国，为中国”为核心承诺，持续深化本土化实践。泰克把全球最新硬件首发放在PCIM Asia，就是要把测试精度、速度和一致性做到极致，我们不仅带来了全球领先的测试方案，更结合中国工程师的实际需求，为前沿产业的发展提供高效、精准、可靠的支持。