为什么在频谱分析中，数图模式中测得的杂散信号有时在幅度上不准确？

　　先问一个问题:为什么杂散信号的范围测量结果在相位噪声对数图的测量模式下太小？

　　请参考下图，偏移载波1MHz处的杂散信号为-60dBC，在信号分析SA模式下：

　　相位噪声测量模式中相同信号的结果如下：

　　小心测量相位噪声模式下的杂散范围。一般来说，杂散、谐波等信号会出现在对数线中。知道这些信号的存在是非常有用的，但在实际测量它们的范围时必须小心。

　　当使用应用软件频谱仪相位噪声测量在测量数图相位噪声时，频谱仪的设置会以某种方式改变，以优化分析仪的噪声测量。这些设置会影响测量过程中CW信号的范围。

　　平均检波器-平均响应检波器提供最准确的噪声测量，是启动相位噪声模式时使用的唯一检波器模式。当分析仪测量的SPAN较宽，RBW相对较窄时，信号峰值带宽非常窄。传统频谱分析中使用的“正态”和“峰值”检波器具有一个特点，可以确保分析仪不会错过信号峰值，无论信号带宽有多窄。平均检波器倾向于通过与相邻噪声平均减小窄峰值信号的大小。见频谱分析的基本红宝书，第29-32页，有更好的解释。频谱仪在后台痕迹处理中使用了足够的点，因此误差非常小。这对于具有相位噪声模式的旧频谱分析仪来说是一个问题。

　　显示光滑-相位噪声固件显示两个轨迹，一个是原始轨迹，另一个是光滑轨迹。显示光滑功能使用每个显示点周围的可变窗口来计算动态平均结果。该窗口的平均功能将始终降低显示的CW信号的峰值。原始轨迹是杂散信号的**显示。

　　最后，显示的SSB相位噪声轨迹被集成，以显示相当于1Hz带宽的噪声。实际测量的BW大于1Hz。集成是根据这个公式完成的：

　　P(1Hz)=P(meas)-10log(RBW)

　　该公式假设分析仪带宽中的所有信号都是真正的噪声信号。如果有相关性（CW）由于集成，信号将显示在较低的范围内。一般来说，RBW在近端偏移时设置为较小的值（允许更好的频率分辨率和抑制载波），而在远端偏移时使用较大的值（允许更快的测量时间）。例如，如果一个特定的测量点使用100kHzRBW，则集成到1hzBW的校正系数为-50dB（-10log（1万）。同样，如果我们正在寻找噪音，则将该校正应用于测量——杂散/谐波也减少了50dB。

　　从xSAA.从18.05版本开始，提供了“杂散检测”算法。可以在“”Display“在菜单设置下调用”SpuriousTable"。(在传统的GUI中，这是Meassetup，more,Spurioustable下)。

　　结果截图(注意-这里我们还提供了杂散的抖动加成！)

　　关于这一切，请记住：在对数图测量中，相关杂散信号的振幅总是在相位噪声测量中减少。如果您的频谱分析仪有一个杂散检测算法——必须使用它来正确显示杂散电平，该单位是DBC。否则，如果您需要这些非噪声信号的准确值，请使用传统的频谱分析模式。