耐压测试是检测电气设备、电气装置、电气线路和电工安全用具等承受过电压的能力的主要方法之一，比如：变压器耐压试验等，是对所有绝缘材料的绝缘强度的考验。 耐压
问题： 近日遇到测试微小样品上的温度变化情况的相关测试。 问题分析: 客户样品比较微小，样品在加热台上加热后，需要判断样品上不同位置几十微米间的温度变
问题：客户做忆阻器相关测试，需要搭配一套方案满足测试需求 问题分析: 忆阻器测试流程熟悉： 作为存储器，忆阻器同样有“置0”和“置1”及读操作，只不过
近日，有客户找到我们需要测PIN的IV特性，客户反馈了解过吉时利2400系列源表测试会出现屏幕无法显示曲线问题，了解客户需求后，为了更好的完成测试，我们及时
静电计是一种广泛应用于电荷测量的仪器，而吉时利6517B型静电计则是其中的一款先进设备。本文将介绍吉时利6517B型静电计的原理、特点，以及其在电荷测量领域
矢量网络分析仪（VectorNetworkAnalyzer，简称VNA）是一种广泛应用于电子领域的仪器，主要用于测量和分析电路中的信号传输、散射参数等。然而
诸如岩石或粘土之类的土壤材料具有电学和机械特性，也与其他物质具有相同的特性。它们通常具有绝缘和小导电性，被称为“介电”材料，它们的特征是它们的介电常数或介电
波形刷新率又叫波形捕获率，指的是每秒钟波形刷新的次数，表示为波形数每秒（wfms/s），波形刷新率越高，捕获异常信号的概率越大。有人会觉得好奇，屏幕刷新一般
电池技术的发展 随着世界各国都在努力降低碳排量，电动汽车(EV)的市场容量正不断扩大。推动这一增长的关键因素将是如何最大限度地减少电动汽车动力系统的开关损
1.什么是宽禁带半导体 第三代半导体（本文以SiC和GaN为主）又称宽禁带半导体，禁带宽度在2.2eV以上，具有高击穿电场、高饱和电子速度、高热导率、高电
MEMS(微机电系统)是一种基于CMOS工艺的集成技术。它将传感器/微处理器/信号处理与控制集于一体，有效缩小了系统的体积，是一种先进的加工技术。 MEM
浪涌又称电涌，定义是超过相应稳定的电压峰值的任何电压峰值，即瞬变电压。瞬间的高电压导流导通，当电压及电流高于正常值的双倍时，称之为浪涌。 产生浪涌的原因是
忆阻器是一种具有电荷记忆功能的非线性电阻，通过控制电流的变化可改变其阻值，自从2008年HP公司制备出了忆阻器，科学家们意识到忆阻器的优势和作用，所以现在也有很多院所开始进行忆阻器的研究 忆阻器研究分为基础性能研究测试，神经突触/神经元测试以及阵列测试，今天主要介绍一下基础研究测试 基础研究分为四步，分别是Fo...
近几年可穿戴设备逐渐成为一个热词，从智能手环到健身腕带，再到VR眼镜，这些产品将数字智能时代尖端的科技呈现在我们面前。但可时至今日，可穿戴设备的技术挑战依然久久没能攻破，续航能力差造成用户体验不友好的情况并没有实质性地得到改善。 众所周知续航能力主要由两个因素决定，分别是电池容量和器件功耗，电池容量越高越好，而功...
随着汽车智能化程度不断提升，与之密切相关的智能座舱和自动驾驶功能对芯片的算力要求越来越高。伴随芯片算力的持续提升其功耗也在不断增加，面临的场景也更加复杂多变，但市场却需要尽可能的降低整体功耗，以延长车辆续航里程，这些变化与要求给工程师带来了很多新的挑战： 高速计算芯片采用了更低的电压供电，但不可避免的带来更大的电...
芯片功能测试是电子产品制造过程中的一项重要步骤。它包括以下多个方面的测试，其中逻辑测试是比较重要的一部分：它包括功能测试、时序测试、性能测试、稳定性测试等，主要通过检测芯片内部的逻辑电路是否正确、时序是否符合规定、性能是否达标以及工作状态是否稳定来判断芯片是否正常。 在这个测试过程中，一个满足需求的信号是比较重要...
在科学研究和工程应用中，经常需要测量微弱的光信号并将其转换为电信号，光电倍增管是一种真空电子器件，在光学测量仪器和光谱分析仪器中发挥着关键作用，它可以用于测量波长在200至1200纳米范围内的非常微弱的辐射功率，然而，当没有光子穿过光电倍增管时，仍会在器件上产生微小电流，这一现象被称为逆向偏压时的漏电流。
当谈到太阳能电池的测试和性能评估时，数字仪器中的一种重要工具是示波器。是德示波器在这方面发挥着关键作用，为工程师们提供了一种精确、可靠的方法来监测和分析太阳能电池的输出特性。
用夹具 TF-ENET-STP，RIGOL的DS70000 系列示波器和差分探头为例，对 100Base-T 以太网信号多个测试项目的测试方法进行统一介绍，夹具 TF-ENET-STP 用于 1000Base-T 和 100Base-T 以太网一致性测试。由于以太网信号属于高速信号，所以不能使用探头直接测量处于工作状态...
关于硅材料杂质浓度测试，经研究，参考肖特基二极管杂质浓度测试方案，两者几乎一致，因此，针对硅材料杂质浓度测试亦采用CV法测量，方案如下： 一、方案配置 1、TH2838系列LCR数字电桥（必选） 可选频率20Hz-1MHz/2MHz，用于测试CV特性 2、TH199X系列精密源/测量单元（SMU）（必选） ...
