一、概述

该方案旨在使用TH2690高精度静电计，对半导体材料进行电学特性测试。通过电流测试模式，评估材料在不同条件下的响应特性，为客户的材料研究与产品开发提供数据支持。

应用实例

在西安某高校实验室内使用TH2690高精度静电计，对客户提供的光敏电阻材料进行电学特性试。通过电流测试模式，评估材料在不同光照条件下的响应特性，为客户的材料研究与产品开发提供数据支持。

1.测量光敏电阻在暗态与光照下的电流值；

2.绘制电流-电压（I-V）特性曲线；

3.分析材料的响应时间、灵敏度等关键参数；

4.为客户提供可重复的测试方法与标准操作流程

三、测试设备与系统配置

主要设备：

TH2690静电计（具备高精度电流测量功能）

探针台（用于接触样品）

光源系统（可调节光照强度）

计算机（搭载上位机软件，用于数据采集与分析）

软件支持：

TH2690配套上位机软件（支持实时数据采集、曲线绘制、数据导出）

四、测试步骤

样品准备

将光敏电阻样品置于探针台上，确保良好电接触；

连接TH2690的电流测量端口至探针。

设备设置：

开启TH2690，选择电流测量模式（Current Mode）；

设置合适的量程（如nA或pA级），避免量程过大导致精度下降

连接上位机软件，启动实时数据采集功能。

暗态测试：

在无光照条件下，施加一系列偏压1V，记录曲线；

绘制暗态I-V曲线。

光照测试：

使用光源照射样品，调节光照强度；

在不同光照条件下重复步骤3，记录电流值；

绘制不同光照下的I-V曲线。

五、预期成果

1.完整的I-V特性曲线数据集；

2.材料的光电响应特性分析报告；

3.客户可独立操作的培训材料与视频。

4.完整将测试过程在用户面前演示，解答用户的疑问以及建群线上沟通。