CH-12 综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试；操作便捷，功能其全，高效精准；可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

产品介绍

　　CH-8|8"~12"综合性分析探针台测试系统

　　特点/应用

　　◆最大可用于12英寸以内样品测试

　　◆同轴丝杠传动结构，线性移动

　　◆大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计

　　◆针座平台快速、微调升降功能

　　◆可搭配多种类型显微镜

　　◆晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

　　◆结构模块化设计，可无缝升级

　　◆探针台可根据客户要求定制。

CH-12 综合性分析探针台测试系统(图1)

　　可选附件：加热台显示器转接头射频测试配件屏蔽箱光学平台镀金卡盘光电测试配件高压测试配件显微镜快速倾仰装置激光系统探针卡夹具

　　规格及设计如有更改，恕不另行通知。