在射频与微波测量中，矢量网络分析仪（VNA）是表征器件S参数的核心工具。然而，当被测器件（DUT）为非同轴结构（如PCB上的SMT元件或晶圆级器件）时，必须借助测试夹具或探针台进行连接。这会引入额外的传输路径，影响测量精度。为将校准平面准确移至DUT端面，通常采用两种主流技术：端口延伸（Port Extension）与夹具去嵌入（Fixture De-embedding）。其中，自动夹具移除（AFR）与自动端口延伸是两种具体实现方式，各有适用场景。

端口延伸是一种简便的校准平面迁移方法。其基本原理是通过补偿夹具引入的电延迟（Delay）和损耗（Loss），将校准面从同轴接口延伸至DUT位置。传统方法仅考虑延迟，现代VNA则支持结合损耗补偿，提升精度。自动端口延伸（Auto Port Extension）功能可通过测量开路或短路状态，自动提取所需的延迟与损耗参数，操作快捷，适用于对精度要求不极端的场景。

相比之下，夹具去嵌入是一种更精确的处理方式。它不仅补偿延迟与损耗，还能消除因阻抗失配引起的反射效应。该方法需获取夹具的S参数模型，可通过电路仿真（如ADS）、电磁仿真或实际测量获得。AFR（Automatic Fixture Removal）是一种高效的去嵌入技术，利用时域分析方法，结合开路、短路或直通测量，快速提取夹具S参数并从测量结果中扣除，显著提升准确性。

二者核心区别在于处理精度与适用条件。端口延伸假设夹具为理想传输线，阻抗匹配良好，仅引入相位延迟与幅度衰减，适用于结构简单、失配小的测试环境。而去嵌入则全面建模夹具的电气特性，适用于高频、高精度或结构复杂的测试场景。

在实际应用中，应根据测试需求选择合适方法。若测试频率不高、夹具设计优良且阻抗连续，自动端口延伸已能满足需求，优势在于操作简便、效率高。但在毫米波频段或对回波损耗、插入损耗精度要求极高的场合，应优先采用AFR等去嵌入技术，以获得更真实的DUT特性。

综上所述，端口延伸与去嵌入各有优劣。工程实践中，应在成本、效率与精度之间权衡，合理选择，以确保测量结果的可靠性与有效性。