随着数据率不断提高，高速数字设计和组件的信号完整性变得更具挑战性。在更高的数据率下，矢量网络分析仪 (VNA) 更是逐渐取代传统的时域反射计 (TDR) 装置，以用于测试连接器、电缆和 PCB 等无源器件。VNA 有助于提高准确性、速度和静电放电 (ESD) 稳健性，是这个领域的理想之选。

R&S®ZNB20 装置可用于验证 PCB 上高达 20 GHz 的高速差分信号线路

您的任务

验证 PCB 上的数字高速信号结构或执行其他任务时，必须在特定层进行测量，同时确保不受探头、探头垫、通孔、引入线和引出线的影响。因此，需要借助精确的去嵌算法计算并消除此类测量影响，确保只保留兴趣区域的测量结果。

测试解决方案

以下装置示例展示了验证 PCB 上高达 20 GHz 的高速差分信号路线。该测试装置基于 R&S®ZNB20 四端口 VNA。相应去嵌工具（如 Delta-L、Delta-L+、PacketMicro 智能夹具去嵌 (SFD) 或 AtaiTec 原位去嵌 (ISD)）可直接在 R&S®ZNB20 上运行，无需使用外部电脑。

除了待测量的实际信号迹线之外，PCB 试样通常还包括较短信号迹线以促进去嵌操作。PacketMicro 等公司的差分 PCB 探头可用于连接 R&S®ZNB20与此类信号迹线。

测试装置

测试程序步骤

流程自动化

为精简测试程序并指导操作员完成测试步骤，通常使用软件自动执行测试。左侧屏幕截图显示测试程序的三个步骤示例：

测量双通（短）结构以进行去嵌，结果显示在左侧栏中

测量整体（长）结构，结果显示在中间栏中

根据所选去嵌方法计算兴趣区域，结果显示在右侧栏中

对于双通（短）结构和整体（长）结构测量，两个探头的阻抗变化趋势显示在插入损耗结果上方。这样便于快速确定是否需要重新调整探头。

在频域和时域中同时显示眼图和测量结果

眼图

可以使用 R&S®ZNB-K20选件进一步分析兴趣区域的眼图。此选件还可用于验证眼图中的加重、噪声、抖动和均衡影响。它还可用于模板测试，并提供合格/不合格检测与统计结果。

结论

R&S®ZNB具备所有必要功能，单机即可测试 PCB 上的数字高速信号结构。该仪器上还可安装其他去嵌工具，以便消除探头、探头垫、通孔、引入线和引出线的影响。

您的任务

验证 PCB 上的数字高速信号结构或执行其他任务时，必须在特定层进行测量，同时确保不受探头、探头垫、通孔、引入线和引出线的影响。因此，需要借助精确的去嵌算法计算并消除此类测量影响，确保只保留兴趣区域的测量结果。