同惠TH2839精密阻抗分析仪是一款高性能、宽频域的自动平衡电桥式测量设备,广泛应用于电子元器件研发、生产测试、材料研究及质量控制等领域。其测量频率范围覆盖20Hz至10MHz,具备0.05%的基本测量精度,结合宽达0.001Ω/0.001mH/0.001pF的高分辨率,可满足IEC、MIL等商业与军用标准的严苛测试需求,是现代电子测量中不可或缺的核心工具。

一、基本操作流程
1.开机与自检:接通电源后,仪器将自动执行系统自检,确认各模块运行正常。建议在测量前进行开路与短路校准,以确保数据准确性。
2.连接被测件:使用标配的四端带卡夹具(TH26005C)或TH26011BS Kelvin测试线连接被测元件,确保接触良好,减少引线阻抗影响。
3.参数设置:通过触摸屏或按键选择测量参数(如Z、θ、Ls、Cp、D、Q等),设定测试频率、信号电平(最大1Vrms)及直流偏置(如需)。
4.开始测量:按下“开始”键,仪器将实时显示主/副参数测量值,结果可自动锁定或连续扫描。
二、高级功能应用
图形扫描分析:支持51至801点频率/电压扫描,可选择主/副参数轨迹,坐标支持对数与线性显示。扫描结果可存储为TXT、CSV等格式,并通过USB或LAN上传至PC。
材料测试:配合选配的电介质测试夹具TH26077及上位机软件,可精确测量材料在不同频率下的介电常数,适用于电子陶瓷、高分子材料等研发场景。
等效电路分析:通过阻抗分析软件,将未知器件等效为3-4元件的电路模型,支持7种基础模型自动匹配,并生成阻抗拟合曲线,便于电路仿真与优化。
三、接口与数据管理 TH2839配备多种通信接口,包括USB HOST/DEVICE、LAN、RS232C及选配GPIB,支持与自动化系统集成。测量数据可保存至仪器内置40组非易失存储器,或通过USB存储器导出为XLS、MDB等格式。支持截屏、记录文件保存及用户权限管理,便于质量追溯。
四、注意事项与维护
测量前确保环境温度稳定,仪器内置温度传感器可自动补偿,但仍建议在恒温环境下操作。
高电流测试时,可通过HANDLER接口外接TH1778系列偏置电流源(最大120A)。
定期使用短路片(TH26010)进行校准验证,保持测试夹具清洁,避免氧化影响接触电阻。

同惠TH2839凭借其高精度、高稳定性与强大的扩展能力,已成为电子材料与元器件测试的优选设备。熟练掌握其操作逻辑与功能配置,将显著提升研发效率与生产良率,助力电子工程迈向更高精度的测量新时代。
相关产品
TH2851系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的最新高度。 TH2851系列阻
同惠TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前国际先进的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架
阻抗分析仪IM3570适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量,分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
同惠阻抗分析仪TH2851系列是常州同惠电子采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,测试频率:10Hz-130MHz。
相关文章
在精密电子测量领域,阻抗分析仪是评估元件阻抗特性的重要工具,广泛应用于电容、电感、电阻及复杂阻抗网络的测试。然而,测量结果的准确性不仅取决于仪器本身的性能,更与校准操作密切相关。其中,开路校准与短路校准是确保测量精度的基础步骤,其核心目标在于消除测试系统中的寄生参数影响。
次时代无线通信5G正在快速普及中。5G拥有低延时以及多连接的特点。例如车对车通信系统VX2,高速通讯的用途在增加。高速信号使用的回路中不可或缺的元器件之一“PIN二极管”。PIN二极管是P区和N区中间夹一层本征层(Intrinsic Layer)的半导体器件。P区、I区、N区取各自的首字母从而被称为PIN。
在现代电子测试领域,阻抗测量的精度与稳定性直接关系到产品研发与质量控制的成败。尤其在高频、高精度应用场景中,如电机、滤波器、高频PCB及新型材料测试,传统的两线测量方式已难以满足需求。为此,同惠电子推出的TH2851系列阻抗分析仪,凭借其先进的四端子对(4TP)测量技术,为高精度阻抗测试提供了强有力的技术支持。
E4980A阻抗分析仪是一款高精度、高稳定性的测试仪器,广泛应用于电子元器件研发、质量检测及材料特性分析等领域。其能够准确测量电阻、电容、电感等元件在不同频率下的阻抗特性,为工程设计提供可靠数据支持。为了确保测量结果的准确性与可重复性,掌握规范的测量步骤至关重要。以下是使用E4980A进行阻抗测量的标准操作流程。
在高频电子元件测试中,阻抗分析仪是测量LC谐振器Q值(品质因数)的核心工具。然而,许多用户常遇到Q值测量结果偏差较大的问题,其根源往往并非仪器本身故障,而是校准不充分或测试环境引入的寄生参数干扰。要获得准确可靠的Q值,必须进行系统性校准与去嵌入处理。
联系电话: 18165377573