在高速数字设计、5G通信及半导体研发领域，信号完整性与测量精度是突破技术瓶颈的核心挑战。是德科技Infiniium V系列示波器凭借磷化铟（InP）集成电路制程、100飞秒级抖动控制及33GHz实时带宽，重新定义了高速信号测量的性能边界，成为工程师攻克复杂测试难题的“终极武器”。

磷化铟制程：突破带宽与噪声的物理极限

Infiniium V系列采用专有的InP半导体工艺，将实时带宽提升至33GHz，较传统硅基工艺实现2倍性能跃升。这一突破使工程师能够直接捕获PCIe 6.0（64 GT/s）、USB4（40 Gbps）等高速总线的基带信号，避免传统分频测量导致的相位失真。同时，InP制程赋予示波器超低噪声特性：在50 mV/div量程下，本底噪声低至1.04 mVrms，较同类产品降低40%，确保眼图测量中眼高误差小于2%，满足800G光模块研发的严苛要求。

100飞秒级抖动控制：洞察信号的“微观世界”

示波器固有抖动是限制测量精度的关键因素。Infiniium V系列通过硬件级时间基准优化，将固有抖动压缩至100飞秒（fs），仅为行业平均水平的1/5。这一特性在分析电源完整性（PDN）阻抗谐振、SerDes芯片时钟抖动时至关重要——例如，在测量10 GHz射频信号的相位噪声时，其抖动底噪可低至-170 dBc/Hz，帮助工程师精准定位0.1%幅度的微弱谐波干扰。

33GHz带宽与2 Gpts存储：完整捕获瞬态信号

配合80 GSa/s采样率与2 Gpts深存储，V系列可无损捕获持续时间达25 μs的高速信号迹线。在测试氮化镓（GaN）功率器件的开关瞬态时，其能同时记录100 ns级上升沿与毫秒级热弛豫过程，避免传统示波器因存储深度不足导致的信号截断。此外，160位硬件串行触发功能支持对USB 3.2（128b/132b编码）符号进行逐比特触发，触发延迟低于500 ps，显著提升协议调试效率。

混合信号与探测系统：构建完整测试生态

V系列混合信号型号提供4个模拟通道与16个数字通道，逻辑通道采样率达20 GSa/s，可同步分析DDR5内存的时钟、数据及控制信号，时序误差小于10 ps。配套的N7000A InfiniiMax III+探头系统支持单端、差分及共模信号一键切换，带宽覆盖8 GHz至30 GHz，磁吸式连接设计使探头更换时间缩短至2秒，大幅提升测试吞吐量。

应用场景与价值

半导体研发：33 GHz带宽与低噪声特性支持GaN、SiC器件的开关损耗测量，助力第三代半导体技术落地。

5G基站测试：100 fs抖动控制可精准分析256-QAM调制信号的EVM（误差矢量幅度），确保射频前端线性度达标。

高速总线合规：内置PCIe 6.0、USB4、100G Ethernet等协议测试套件，一键生成符合标准要求的HTML报告，缩短认证周期50%以上。

是德Infiniium V系列示波器以InP制程、飞秒级抖动控制及33 GHz带宽为核心，构建了从信号捕获到深度分析的完整解决方案。对于追求“零误差”测量的高端研发场景，它不仅是工具，更是突破技术边界的“信号显微镜”。