在电子测试测量领域，一款功能强大且操作便捷的任意波函数发生器，是工程师们梦寐以求的得力工具。AFG31000 系列任意波函数发生器，凭借其创新技术与卓越性能，脱颖而出，成为众多专业人士的理想之选。

优异指标，满足多元需求

AFG31000 提供单或双通道型号，接到 50Ω 负载时，输出幅度范围达 1 mVp-p 至 10 Vp-p，灵活适配不同测试场景。基本模式下，可输出 25 MHz 至 250 MHz 的正弦波形，采样率从 250 MSa/s 到 2 GSa/s 可选，14 位垂直分辨率带来精细的信号呈现。连续、调制、扫描与突发模式一应俱全，各通道具备 128 k 点的任意波形内存，满足基础测试需求。高级模式下，连续模式与选配的序列、触发和选通模式相结合，各通道任意波形内存可拓展至 16 M 点（可选 128 M 点），序列模式下多达 256 步，变量采样时钟范围广，最小波形长度仅 168 点，粒度为 1 点，为复杂测试提供有力支持。

创新技术，提升测试效率

InstaView™ 技术是 AFG31000 的一大亮点。它能直接查看连接被测设备（DUT）后的实时波形，无需借助示波器等额外设备，既节省了测试时间，又避免了因阻抗不匹配导致的实验错误，让测试结果更加准确可靠。此外，AFG31000 内置双脉冲测试软件，在一分钟内就能在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度（20 ns 到 150 µs）的波形，无需外部 PC 应用程序或手动编辑，可轻松测量开关器件参数，评估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的动态性能。

功能升级，拓展应用边界

AFG31000 不仅开箱即用，还支持功能选配升级。用户可将内存扩展至每通道 128 M 点，还能通过选配序列/触发/选通模式，实现循环、等待、跳转等多种功能，创建时序灵活、复杂的长波形，以更低的成本实现复杂波形的创建和编辑，进一步提升测试水平。