采用 InstaView™ 技术的泰克AFG31000 系列为内置波形发生应用程序、具有实时波形监测功能并采用智能用户界面的一款高性能任意波函数发生器。

验证连接 DUT 后输出波形

InstaView™ 技术用在任意波函数发生器上可直接查看连接 DUT 后的实时波形，无需使用示波器或其他设备，节省测试时间并避免因阻抗不匹配导致的实验错误。

一分钟内完成双脉冲测试

泰克AFG31000 是一款包括内置双脉冲测试软件的函数发生器。现在，您可以在一分钟内直接在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度（从 20 ns 到 150 µs）的波形。无需使用外部 PC 应用程序或手动编辑。

测量开关器件参数并评估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的动态性能。

高保真度信号与高级模式

打开包装后，在连续模式下每通道可以生成高达 16 M 点的精确长波形。可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。产品功能可升级，您可以进一步提高测试水平并只需花费传统 AWG 十分之一的成本进行复杂波形的创建和编辑。

产品选配功能升级，您可以：

将内存扩展为每通道 128 M 点（选件 MEM）

多达 25 项输入和控制的序列/触发/选通模式（选件 SEQ）用于：循环、等待、跳转、转至、外部触发输入、手动触发、定时触发和 SCPI 命令，以便创建时序灵活、复杂的长波形。

简化任意波形创建

内置的 ARB 编辑工具 ArbBuilder 包括创建、编辑和传输任意波形的所有操作，无需连接 PC 或向 PC 传输文件。 幅度和偏置数据存储在波形中，因此，在加载标准化 ARB 后，无需调整设置。

优异的指标

单或双通道型号

接到 50Ω 负载时的输出幅度范围 1 mVp-p 至 10 Vp-p

基本 (AFG) 模式

25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形

250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采样率

14 位垂直分辨率

连续、调制、扫描与突发模式

各通道均具有 128 k 点的任意波形内存

高级模式

连续模式和选配序列、触发和选通模式

各通道均具有 16 M 点的任意波形内存（可选 128 M 点）

在包含循环、调整和等待事件的序列模式下多达 256 步

变量采样时钟 1 µSa/s 至 2 GSa/s

最小波形长度 168 点，粒度为 1 点

泰克AFG31000 系列采用 InstaView™ 技术的高性能任意波函数发生器，凭借其独特优势与丰富功能，在测试测量领域脱颖而出。从实时监测连接 DUT 后的输出波形，到一分钟内轻松完成双脉冲测试，为功率器件动态性能评估提供高效便捷之选；高保真度信号与高级模式，确保波形数据的完整性与精准性，且以极具性价比的方式实现功能升级与复杂波形编辑；内置的 ArbBuilder 工具，更是简化了任意波形创建流程，提升操作效率。再加上其优异的各项指标，无论是基础模式还是高级模式，都能满足多样化的测试需求。泰克AFG31000 系列无疑是工程师们在信号生成与测试领域的得力助手，助力开启高效、精准的测试新征程。