普源精电（RIGOL）发布全新PIA1000系列光隔离探头，使用光纤供电与传递模拟信号，在测试系统和DUT之间实现完全的电气隔离，允许探头在大共模电压下浮动测量。突出的带宽、动态范围和共模抑制性能，能够满足功率半导体组成的高压高频电路的不断发展与功率半导体器件日益提升的测试需求，为相关领域的测试提供更多可能性！

　　1、产品亮点

　　高共模抑制比：最高CMRR可达180dB

　　高带宽：最高可达1GHz带宽

　　共模电压高达85kV，差模电压高达±6250V

　　高测试精度：直流增益精度±1%

　　光纤供电：标配2m长度的光纤传输，确保安全测量距离

　　适配RIGOL示波器有源探头接口，支持RIGOL示波器供电和Type-C供电(12V,3A)两种模式，为您的测试提供便利

　　2、解决痛点

　　安全隔离与精确测量的双重保障

　　在电压测试中，安全和精度是工程师最关心的问题。PIA1000系列光隔离探头将有效解决用户痛点：

　　电气隔离：PIA1000通过光纤传输信号及供电，消除了电气连接，提供极佳的隔离效果；

　　安全测试：PIA1000系列采用了新的探头尖设计，可以有效避免功率半导体的“炸管”现象，并且标配2m长的光纤，可以让示波器远离高压待测物，提升工程师操作的安全性

　　共模信号抑制：PIA1000拥有强大的共模信号抑制能力，有助于减少由电源线噪声、地回路干扰等引起的共模噪声；

　　低负载效应：PIA1000具有较低的输入电容和高输入阻抗，减少了对被测电路的负载影响；

　　快速开关器件的测量：PIA1000最快上升时间可达350ps，能够准确捕获第三代半导体高速开关事件。

　　高动态范围：PIA1000提供一系列衰减电缆和衰减倍数可切换，能满足各种高压测试的应用。

　　丰富的附件：PIA1000提供MMCX连接器等附件，提供高性能和便捷的连接。

　　3、典型应用

　　有效解决GaN测试问题

　　在第三代半导体测试中，参考的源极有快速变化的共模信号，使得Vgs和Vds的测量难以开展。PIA1000光隔离探头在全带宽内超高的共模抑制能力，可以将GaN的Vgs、Vds信号细节完美展现。

　　PIA1000现支持DHO4000系列、MSO8000系列示波器，满足高分辨率和高带宽测试需求。PIA1000支持Type-C供电(12V,3A)，能够适配无探头供电的RIGOL示波器。

　　下图为200MHz带宽的高压差分探头与光隔离探头测试GaN的Vgs信号波形对比图，CH1为光隔离探头的测示波器，CH3为高压差分探头的测试波形，CH3的波形出现了明显的震荡，在电路正常工作的情况下测试出来这样的波形，显然是不合理的。而同样条件下的CH1的波形就不存在这么明显的震荡，在正常工况下，光隔离探头测试的波形与理论波形更接近，由此可见，光隔离探头的测试结果是更加可靠的。

　　▲高压差分探头与光隔离探头测试GaN的Vgs信号波形对比图

　　GaN器件具有极短的开关时间，这对于探头的共模抑制能力提出了更高的要求，差分探头的测试引线相对较长，测试中会引入较大的寄生电容和天线效应，信号的剧烈震荡将瞬间引爆GaN器件，也就是工程师常说的：炸管。这个问题让很多工程师头疼，不仅器件损坏，还有可能会对工程师的安全造成威胁。

　　PIA1000系列光隔离探头采用的是MMCX&MCX连接器，引线短，寄生电容非常小，几乎不会产生天线效应，可以有效保障GaN器件的安全可靠测试。

　　4、多项全能

　　全方位覆盖电子测试需求

　　电机驱动与功率转换器设计

　　为电机驱动设计和功率转换器设计提供必要的信号隔离和测量精度。

　　GaN、SiC、IGBT设备设计与分析

　　支持新一代半导体器件的高速信号测试和分析。

　　逆变器、UPS及开关电源测试

　　在逆变器、不间断电源(UPS)和开关电源的测试中，提供稳定可靠的测量结果。