开关电源在很大程度上依托于半导体开关器件的工作，如MOSFET和IGBT，开关电源利用自身非常快的开关速度，实现了非常高的转化效率，损耗极低，半导体开关器件就会对开关电源的性能有非常大的影响，所以半导体开关器件的开关损耗测试是极其重要的，本文即将介绍示波器如何测试开关器件的开关损耗测试

　　用到的设备有：是德示波器，差分探头，电流探头

　　使用校准过的电压电流探头同时测量就会得到如上图的波形，在示波器上的math中，使用数学公式计算，得到功率P的波形如上图中P波形，可以参考下面的公式

　　Eon表示导通过程的损耗能量

　　Pon表示导通过程的平均损耗功率(有功功率

　　Vds、ld分别表示瞬时电压和电流

　　Ts表示开关周期

　　t0、t1表示导通过程的开始时间与结束时间