当5G毫米波商用进入规模化落地关键期,6G太赫兹预研、第三代半导体材料攻关的节奏持续加快,国内科研与产业端长期面临的1-5GHz高精度射频测试“卡脖子”痛点,终于迎来本土化解决方案。由同惠电子基于三十余年阻抗测试技术积累打造的TH2852系列射频阻抗分析仪、TH2853系列射频LCR测试仪正式上市,为前沿领域的研发突破注入国产测量动力。
一、TH2852系列射频阻抗分析仪:全能型射频阻抗分析利器
TH2852系列射频阻抗分析仪专为需要洞悉器件本质特性的工程师设计,其核心性能参数如下:
(一)超宽频率范围与高分辨率
测试频率:1MHz – 5GHz,能够适配 HF 到 C 波段范围内绝大多数射频工程应用场景。
频率设置分辨率:1mHz,能够在极窄的频带内进行精细扫描,满足晶体谐振器、声表面波滤波器等对频率精度要求极高的测量需求。
对比传统电桥,射频IV法无需复杂平衡校准,直接采样实时计算,从根源规避高频寄生参数引发的相位漂移与杂散误差,完美适配中高频、射频乃至微波频段精密测量。TH2852系列射频阻抗分析仪四项核心指标全面超越国际同类产品,为射频测试提供高效精准的国产替代新选择。
(二)宽广的阻抗测量范围与高精度
阻抗测量范围:120 mΩ ~ 60 kΩ,兼顾低阻抗功率器件与高阻抗材料特性分析。
基本精度:±0.3%(典型值),确保了测试结果的绝对可信,满足了从研发验证到质量控制的高标准要求。
测试速度:最快达 0.4 ms/点,可在毫秒级内完成单点测量,大幅提升产线效率。
(三)深度分析功能矩阵
TH2852系列射频阻抗分析仪内置多种高级分析与选件功能,可满足不同应用场景的深入测试:
曲线扫描功能:该功能将射频器件的复杂行为可视化,为深入分析和诊断提供最直接的依据。
TH2852系列拥有十分强大的扫频功能,能在1MHz-5GHz下进行曲线扫描。

等效电路分析测试:复杂射频结构直接电磁场仿真算力大、耗时长,等效电路分析可将其抽象化为简化模型,精准复现端口参数,是高效系统仿真的核心基础。
现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件,等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。


介电常数分析(选件):该功能揭示了材料与电场相互作用的全貌,是介质材料高频特性设计的基础。

TH2852系列支持介质材料介电常数、介质损耗分析,需选购测试夹具及分析软件。
磁导率测量(选件) :该功能解锁了材料对磁场响应的窗口,是开发射频磁性材料和器件的关键。

TH2852系列支持磁性材料磁导率测试,在主机的基础上,需选配测试夹具及磁导率分析软件。
史密斯圆图功能:史密斯圆图(Smith Chart)是射频 / 微波工程统一处理阻抗、导纳、反射系数的图解工具。

一张图就能完成:阻抗匹配、传输线计算、驻波比、反射损耗、负载变换、匹配网络设计。
二、TH2853系列射频LCR测试仪:精准、易用、可靠的产线与实验室伙伴
TH2853系列以实用型定位,聚焦于高频LCR参数的精确、快速、直观测量,是产线检测与日常实验室测试的不二之选。
(一)核心参数
测试频率:1 MHz – 5 GHz,与TH2852系列同频覆盖,确保高频元件测试无死角。
频率设置分辨率:1 kHz,满足绝大多数标准射频LCR测试的步进需求。
基本测量项目:电容(C)、电感(L)、电阻(R)、阻抗(|Z|)、品质因数(Q)、损耗因数(D)、相位角(θ)等。
(二)三种模式
点测模式:在单一频率下快速读取被测元件的LCR参数;
列表扫描模式:设定多个频率点,一次性读取不同频率下的参数。
曲线扫描模式:清晰展示阻抗、相位等关键曲线随频率的变化,方便您快速评估宽带器件的性能。
TH2853系列的操作界面经精心设计,即使是初次接触射频LCR测试的用户也能快速上手。
三、应用场景:从产线到实验室,赋能射频生态
两款新品的发布,弥补了国内在5GHz射频阻抗分析仪与高频LCR测试仪的产品空白。其典型应用场景包括:
无线通信:5G/6G基站天线调谐、手机端射频前端模块(PA、滤波器、双工器)的输入输出阻抗匹配。
汽车电子:车载雷达的天线与传输线特性分析、高频连接器测试。
半导体与材料:LTCC/HTCC基板介电常数与损耗角正切测量、铁氧体材料磁导率表征、EMI抑制磁珠的频率特性分析。
四、2年内免费享1次专业校准服务
仪器定期校准是数据精准的关键,也是常年的隐形开销。本次首发购机专属福利:两年内免费享1次专业校准服务,保障仪器测量精度,数据稳定可溯源,完全满足科研实验、项目结题、产品检测的严苛要求,省去长期运维成本。
以本土技术支撑,筑牢射频研发测量根基
射频阻抗测量技术迭代始终紧跟通信产业变革,国产仪器正式突破5GHz大关,绝非频率数字升级,而是射频I-V法、高精度校准算法等核心技术的全面突破,彻底打破海外垄断。TH2852系列射频阻抗分析仪&TH2853系列射频LCR测试仪,将为半导体器件测试、材料表征筑牢国产高端仪器的底层支撑。
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