应客户需求，安泰测试做了偏振片电磁特性测试，以下是测试方案

被测件：偏振片

厚度：带膜（230um）；不带膜（160um）

测试要求及内容：不带膜条件下，不同角度的Q值和介电常数值（0~360°）

测试仪器：Keysight N5227A；

分析软件：Keysight N1500A；

介电常数分析软件：自研软件；

测试频点：3.4GHz

网分空腔测试

现场图片及曲线（0°）

现场图片及曲线（90°）

现场图片及曲线（180°）

现场图片及曲线（270°）

现场图片及曲线（360°）

测试数据汇总

根据数据分析，偏振片不同角度下的 Q 值和介电常数

用以评估偏振片微观结构（分子取向、晶体结构、缺陷分布等）各向异性在宏观介电性能上的体现。

通过分析其角度依赖性，揭示偏振片内部结构的方向性特征，并关联到偏振片的偏振效率、能量损耗等关键功能参数，为优化制备工艺、提升性能提供依据。