WK4100系列 LCR表体积小、重量轻、性价比更高的元器件测试仪器
WK4100系列 LCR表产品参数:
1J4110 频率范围20Hz~100kHz
1J4120 频率范围20Hz~200kHz
1J4150 频率范围20Hz~500kHz
1J41100 频率范围20Hz~1MHz
• 测试频率:20Hz—1MHz
• 基本精度:0.1%
• 最快测试速度:〈20ms
• 提供B1、B2、S1和S2测包讯号,可连接各家封装测试机
• 测试参数:阻抗(Z), 相位角(θ)、交流电阻(Rac)、电容(C), 损耗因数(D),电感(L), 品质因数(Q),电纳(B), 电导(G), 电抗(X), 导纳(Y)和直流电阻(Rdc)
• 交流信号源:10mV—2Vrms
• 通信接口:GPIB、RS232、LAN和USB
• 直流叠加:内置+2V,外加0—±40V
• 具有带电电容器放电保护电路
• 体积小、重量轻、性价比更高的元器件测试仪器
WK4100系列 LCR表适用范围:
0.1% 基本精确度,266PCS/分产量~540PCS/分
双频测试,四项参数显示
4110频率范围20Hz~100kHz
4120频率范围20Hz~200kHz
4150频率范围20Hz~500kHz
41100频率范围20Hz~1MHz
GPIB USB,LAN,RS232界面与操作软件
测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
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