TSD-100提篮式冷热冲击试验箱

 TSD-100提篮式冷热冲击试验箱

大型电子器件验证评估的最佳手段。

最大30Kg承载,温度恢复时间小于5分钟
样件表面温度联动控制功能
满足两侧加电及数据采集要求
高温曝露范围:+60~+200℃;低温曝露范围:-65~0℃;内容积:100L

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